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一、參考書目:

王培銘、許乾慰主編“材料研究方法”（第三版），科學出版社

二、基本要求

1. 掌握各種材料表征設備的理論基礎、樣品處理方法、數據處理方法。

2. 掌握晶體學基礎知識，理解X 光、電子束與晶體相互作用機制。

3. 掌握材料結構、形貌、成分分析的基本方法，掌握各種測試方法的應用范圍及優勢。

4. 能綜合運用各種分析方法研究材料的結構及物理、化學性質，解決材料研究中的常見案例。

三、主要知識點

第一章 晶體學基礎知識：晶體幾何學基礎；空間點陣；倒易點陣及其在幾何學中的應用。

第二章 X 射線衍射：X射線的產生及特性；X射線與物質相互作用機制；布拉格方程及衍射方法；X射線衍射儀的基本結構及工作原理；粉末衍射定性分析；應力分析；謝樂公式；X射線衍射的應用；X射線衍射譜的標定及數據分析；物相分析的一般方法。

第三章 電子顯微學：光學顯微鏡與透射電鏡的異同；電子與物質的相互作用；掃描電鏡和透射電鏡基本工作原理、儀器構造、樣品制備方法及應用范圍; 透射電鏡成像方法、明場像、暗場像；電子衍射原理、基本衍射公式、電子衍射花樣及標定方法。

第四章 原子力顯微鏡：原子力顯微鏡工作原理、儀器構造及應用范圍；原子力顯微鏡工作模式。

第五章 熱分析方法：差熱分析、熱重分析儀的工作原理及在材料研究中的應用；熱重曲線、差熱曲線的數據分析。

第六章 材料成分分析方法：X射線光電子能量譜（XPS）、俄歇電子能譜、X射線能量色散譜的工作原理及應用范圍；XPS 分峰方法。

第七章 光譜分析：物質與光的相互作用；紫外可見吸收光譜、拉曼光譜、紅外光譜的工作原理及其在材料研究中的作用。比爾定律、拉曼散射、拉曼/紅外活性等相關重要概念。

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