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科目代碼：3603

科目名稱：核輻射探測學

一、 考試的總體要求

了解輻射與物質的相互作用、不同類型的輻射與物質相互作用的機理、重帶電粒子的能量損失率、光子與物質的相互作用類型;氣體中離子與電子的運動規(guī)律、氣體探測器的基本構造、探測器輸出信號形成的物理過程、正比計數(shù)器的工作原理及輸出信號的相關特性、G-M計數(shù)管的工作原理及輸出信號的相關特性;閃爍體探測器的基本工作原理、閃爍體的分類、光電轉化及倍增器件的工作原理、閃爍體探測輸出信號形成的物理過程及特性、閃爍光子譜學;半導體探測器的工作原理、幾種不同類型的半導體探測器的原理及應用;中子與物質相互作用的機理、中子探測常用的方法及常用的探測器、中子注量率和中子能譜的測量;統(tǒng)計漲落對探測器性能的影響、放射性測量中的統(tǒng)計誤差、電離過程的漲落和法諾分布。

二、 考試的內容

1，輻射與物質的相互作用：帶電粒子與靶物質原子的碰撞過程、重帶電粒子在物質中的能量損失率與Bethe公式、快電子的能量損失率、光子與物質的相互作用類型及比較。

2，氣體探測器：氣體中離子與原子的運動規(guī)律、電離室的結構和輸出信號形成的物理過程、電離室的類型、正比計數(shù)器的工作原理及信號形成的物理過程、G-M計數(shù)管的工作原理和輸出信號的特性。

3，閃爍探測器：閃爍探測器的基本結構和工作原理、閃爍體的發(fā)光機制和物理特性、閃爍體的類型、光電轉化及倍增器件的工作原理、閃爍探測器的輸出回路及信號形成的物理過程、閃爍gamma譜學。

4，半導體探測器：半導體探測器的主要特征和優(yōu)點、半導體材料的性質、不同半導體探測器(PN結型、高純鍺型和PIN型)的工作原理，輸出信號形成機制及應用。

5，中子及中子探測：中子的分類及中子源、中子與物質的相互作用、中子探測常用的方法及常用的探測器、中子能譜的測量。

6，輻射探測中的統(tǒng)計學：放射性計數(shù)的統(tǒng)計分布、輻射探測數(shù)據(jù)的統(tǒng)計誤差及誤差傳遞、電離過程中的漲落分布。

三、 考試的題型

考試題型主要包括：填空題、簡答題和計算題。