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課程名稱：材料現代分析方法
Ⅰ、考試總體要求
掌握X射線衍射分析（XRD）、電子顯微分析（SEM、TEM）、紅外光譜分析（IR）及熱分析（DTA、DSC和TG）等分析方法的設備構造、工作原理、表征技術和應用。要求能夠正確選用現代分析技術開展材料組成、結構與性能關系的科學研究能力。
Ⅱ、考試的內容及比例
1、X射線衍射分析（30-40％）
(1) 掌握X射線物理學基礎、X射線衍射理論、X射線衍射方法；
(2) 理解定性、定量分析原理，PDF卡片的組成；
(3) 掌握物相的定性、定量分析方法；
(4) 了解XRD的典型應用。
2、掃描電鏡（20-30％）
(1) 了解采用的分析信號，電鏡結構、成像原理及用途；
(2) 掌握試樣制備方法，圖像的解釋；
(3) 掌握電子探針的原理、結構、用途及性能比較，譜圖分析方法。
3、透射電鏡（15-25％）
(1) 了解電子與物質作用信號，透射電鏡結構及成像原理；
(2) 掌握薄膜及復型試樣制備方法；
(3) 掌握選區電子衍射及衍射花樣的分析。
4、熱分析技術（10-15％）
掌握差熱分析、差示掃描量熱分析和熱重分析的基本原理和應用。
5、光譜分析（5-10％）
(1) 掌握光譜分析的原理、特征和應用；
(2) 了解有機化合物基團的特征吸收頻率；
(3) 熟悉紅外光譜的解析方法。
6、其它現代分析方法（0-5％）
參考書：
１．材料科學研究與測試方法，朱和國，東南大學出版社，2008
２．材料現代分析方法，左演聲，北京工業大學出版社，2000
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